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半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。Pico示波器测试输出阻抗为5Ω的信号时，需要配套一个5Ω转1MΩ的直通端子。 近在一个客户那里进行现场测试，发现波形的振荡比较严重，如红框所示，从而导致无法进行正确的数据分析。波形振荡严重经过分析之后，发现信号输出阻抗是5Ω，而示波器的输入阻抗是1MΩ，由于阻抗不匹配引起的波形振荡。之后加了一个5Ω转1MΩ的直通端子，测出来的波形就没有振荡了，如所示同时了解到：当输入阻抗为5Ω时，测量电压为5VRMS，即示波器的测量范围只能低于±5V，否则就会烧坏阻抗匹配电路。直流测量阻抗被测电阻Rtest的计算公式如公式：交流阻抗测量原理测量CAN通信网络或CAN节点交流阻抗的原理，是给予被测对象一个交流激励源UAC，与被测对象RP、CP形成回路。CANScope-StressZ里的阻抗测量功能用到的就是这个方法，具体操作是：连接好设备后，打上位机软件，选择阻抗测量，点击始即可自动完成测试并生成测试结果，如所示。CANScope阻抗测量界面CANScope-StressZ内部设计的等效阻抗模型是RP‖CP并联模型，原理图如所示。

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湖南盈能电力科技有限公司建有科技大楼、研发中心、自动化公区及标准生产车间，生产线配备了 的试验设备，制定了系统发软件、通讯协议安全可靠，性能测试稳定，并与国内大学单片机中心组成为产学研联合体。盈能电力主要分为四大生产事业部运营：电气自动化事业部、高压电器事业部、智能仪表事业部、低压电器事业部。公司现拥有多名 工程师，几 技术人才，近百名生产员工。 yndl1381

即使总线存在一定范围内的共模干扰，也能正确进行以上识别。测试原理框图如下图，其中框图中的U1是DUT供电电压、U2是共模电压、U3是差分电平。CANDT设备隐性输入电压限值测试原理框图CANDT设备显性输入 中，要求增大差分电压值的是电流源，由于电流源本身的输出电容较大，系统响应较慢，不适合来模拟电流源，这里使用电压源串联电阻的方式来等效电流源。CANDT测试流程隐性输入电压限值测试如测试原理框图连接状态，DUT和CANDT需正常通信；断电压源U3，调节电压源U2，逐步将共模电压调到6.5V或-2V，在此期间DUT应能正常发送报文；调节电压源U3，逐步将差分电平调到隐性电平上限值0.5V，判断DUT是否能够正常发送报文，若能，则表示测试通过。在理想状态下，当被测烟气与参比气浓度一样时，其输出电势E值为0mV,但在实际应用中，锆管实际条件和现场情况均不是理想状态。故事实上的锆管是偏离此值的。实际上，一定氧含量锆管输出的电势为理论值和本底电势的和，我们称为无浓差条件下锆管输出的电势值为本底电势或称为零位电势，此值的大小又在不同温度下呈不同的值，并且随锆管使用期延长而变化。如不对此情况，会严重影响整套测氧仪的准确和探头寿命。氧化锆氧量分析仪主要用于测量燃烧过程中烟气的含氧浓度，同样也适用于非燃烧气体氧浓度测量。

拉曼光谱仪器大受欢迎主要是由于现代仪器所配备的智能决策软件和谱图库，使得它成为理想的分子指纹图谱分析技术。不同于传统的分子光谱技术，拉曼光谱仪可用于生产环境或现场应用，因为它能产生尖锐、特异的谱峰，几乎不需要样品前或直接与样品接触。此外，它还具有独特的能力，可以通过透明的包装材料，如玻璃或塑料，直接测试样品，并对光谱信息没有任何干扰。如今的拉曼光谱仪在朝着更快、更坚固耐用、更便宜、元器件小型化的方向发展，促使了高性能，便携式、式拉曼光谱仪的出现。